測試數(shù)據(jù)驗證MLC性能退步
王欣 發(fā)表于:13年05月08日 11:00 [轉載] 天極網
測試數(shù)據(jù)驗證MLC性能退步
如果將上面這些理論落實到評測數(shù)據(jù)里,國外媒體Anandtech通過測試數(shù)據(jù)證實了20nm MLC究竟有多差勁。以下是一部分參考截圖。
測試數(shù)據(jù)總結下來就9個字:速度慢延遲長功耗高。不過對于廠商來說,工藝提升意味著成本降低,任何負面都是無法阻止工藝提升的腳步的,用戶能做的只有慢慢習慣性能越來越差的新產品。
說到最后再提一個假設:是不是在某個時間點,企業(yè)級的芯片存儲和民用級的芯片存儲會因為訴求分歧過大而徹底分道揚鑣?