本次峰會期間，還舉辦了閃存技術(shù)學(xué)術(shù)論壇（線上），由華中科技大學(xué)武漢光電國家研究中心教授、中國計算機行業(yè)協(xié)會信息存儲與安全專業(yè)委員會副秘書長吳非擔(dān)任出品人。論壇特別邀請了哈爾濱工業(yè)大學(xué)（深圳）教授夏文、華東師范大學(xué)教授、CCF信息存儲專委常委石亮、得一微電子存儲分析部總監(jiān)葉敏博士，以及華中科技大學(xué)武漢光電國家研究中心副教授周健，分別發(fā)表主題演講。
哈爾濱工業(yè)大學(xué)（深圳）教授夏文發(fā)表技術(shù)演講——面向閃存的數(shù)據(jù)去重技術(shù)優(yōu)化研究。他指出，在全球數(shù)據(jù)量爆炸式增長的背景下，數(shù)據(jù)存儲與管理面臨著巨大的挑戰(zhàn)。數(shù)據(jù)去重與壓縮技術(shù)成為提升存儲效率的關(guān)鍵手段。傳統(tǒng)壓縮算法在時間和空間復(fù)雜度上受限，難以適應(yīng)大規(guī)模存儲系統(tǒng)。數(shù)據(jù)去重技術(shù)通過文件級或數(shù)據(jù)塊級的冗余消除，顯著提高了存儲和傳輸效率。然而，去重技術(shù)也帶來了元數(shù)據(jù)寫放大的問題，這對存儲設(shè)備的壽命產(chǎn)生了負(fù)面影響。對此，夏文教授提出了優(yōu)化去重文件系統(tǒng)的方案，H2C-Dedup能夠有效解決去重元數(shù)據(jù)I/O放大問題，從而延長SSD的壽命。
華東師范大學(xué)教授石亮的演講主題為高密度閃存存儲系統(tǒng)：從介質(zhì)、控制器到系統(tǒng)的挑戰(zhàn)與機遇。主要內(nèi)容包括高密度閃存的發(fā)展趨勢、存儲系統(tǒng)關(guān)鍵技術(shù)研究的重要性、國際四大廠商的技術(shù)進(jìn)展預(yù)測以及未來發(fā)展趨勢的探討。報告分析了開放通道存儲技術(shù)、近存儲計算系統(tǒng)及AI時代的高密度閃存挑戰(zhàn)，并提出了通過定制化接口編程加速應(yīng)用過程等解決方案。
得一微電子存儲分析部總監(jiān)葉敏博士的技術(shù)演講題為動態(tài)Read Retry方法——實現(xiàn)3D NAND閃存的近零Read Retry。他指出，隨著閃存存儲設(shè)備經(jīng)歷多次擦寫周期后，其可靠性逐漸下降，導(dǎo)致讀操作時需要更多的Read Retry進(jìn)行錯誤校正，從而嚴(yán)重影響了讀性能。為了解決這一問題，葉敏博士提出了一種創(chuàng)新的動態(tài)Read Retry方法，讓3D NAND在性能控制和耐磨管理上獲得提升，進(jìn)一步延長存儲芯片的壽命，并提升整體存儲系統(tǒng)的性能。
華中科技大學(xué)武漢光電國家研究中心副教授周健的演講主題是基于數(shù)據(jù)處理器的存儲系統(tǒng)優(yōu)化設(shè)計。他指出，當(dāng)前計算機系統(tǒng)面臨著存儲與計算性能提升不平衡的問題。雖然固態(tài)硬盤的性能不斷提升，但處理隨機I/O所需的CPU資源也隨之增加。針對這一挑戰(zhàn)，周健教授提出了利用數(shù)據(jù)處理器優(yōu)化存儲系統(tǒng)設(shè)計的方案，以減少CPU的占用并提高存儲性能。其中日志結(jié)構(gòu)合并樹的優(yōu)化方法，包括軟硬件優(yōu)化兩大類。通過數(shù)據(jù)處理器實現(xiàn)后臺任務(wù)的卸載，提出了輕量化文件共享機制、硬件輔助的透明壓縮機制以及動態(tài)自適應(yīng)的合并調(diào)度機制等關(guān)鍵技術(shù)。
