演講嘉賓：華中科技大學光電國家研究中心研究員、博導 吳非
吳非博士，研究員，博導。武漢市晨光人才，“3551”人才。先后在美國卡耐基梅隆大學數(shù)據(jù)存儲中心、美國中佛羅里達大學數(shù)據(jù)存儲實驗室、IBM公司存儲事業(yè)部做訪問學者。曾獲湖北省技術(shù)發(fā)明二等獎、軍隊科學技術(shù)進步二等獎各1項。
主要研究方向大規(guī)模存儲系統(tǒng)，非易失存儲的數(shù)據(jù)調(diào)度、性能和可靠性優(yōu)化技術(shù)，新型存儲體系結(jié)構(gòu)等。擔任TOC、TOS、TCAD、IEEE Access等頂級期刊的特邀評審人以及NAS、APPT等國際會議的程序委員會委員，參與制定“固態(tài)盤性能測試”國家標準。在包括ToS、TC、TCAD、TECS以及Eurosys、DAC、Sigmetrics、DATE等國際一流期刊和會議上發(fā)表論文60余篇， 申請發(fā)明專利24項， 軟件著作權(quán)6項。
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演講介紹
介紹新時期存儲安全可控的內(nèi)涵和挑戰(zhàn)，存儲發(fā)展現(xiàn)狀以及面臨的問題；基礎(chǔ)研究如何助力存儲發(fā)展，還有面臨新機遇和挑戰(zhàn)，閃存存儲安全可控的思考。
