Software configuration:（軟件介紹）

O.S: Microsoft Windows Servet 2008（Chinese version）

Sress test utility:Intel IOMeter Version :2006.07.27

抗震測試的位置主要在于排列緊密的硬盤區(qū)域，測試中所用到的RAID配置如下：

Adaptec 5805RAID卡；硬盤有：3.5” Western Digital WD2002FYPS x 10 pcs  ，3.5” Western Digital WD1002FBYS x 16 pcs  ， 3.5“ Western Digital WD1000FYPS x 4 pcs  ，  3.5“ Western Digital WD7500AYYS x 6 pcs。（一共36個硬盤）

測試環(huán)境介紹：

將機箱固定在桌面上，保證機箱運行過程中的震動不會造成機箱在桌面上的移動，測試過程中的震動強度為10Hz to 500Hz @0.25g’s @1 octave/minute  。測試方向為下列三位圖中的X.Y軸。

測試選中兩個位置，如圖所示：Disk6 and Disk18 ,每處均測試其X.Y軸上抗震效果。

Diak6在X軸上結(jié)果：

測試結(jié)果小結(jié)：測試后，沒有可見的損壞處，各個配件，硬盤等都沒有發(fā)生移位現(xiàn)象，測試過程中，有隨機的兩到三個硬盤無法正常工作。

Diak6在X軸上結(jié)果：

測試結(jié)果小結(jié)：測試后，沒有可見的損壞處，各個配件，硬盤等都沒有發(fā)生移位現(xiàn)象，測試過程中，有隨機的兩到三個硬盤無法正常工作。

Diak18在X軸上結(jié)果：

測試結(jié)果小結(jié)：測試后，沒有可見的損壞處，各個配件，硬盤等都沒有發(fā)生移位現(xiàn)象，測試過程中，有隨機的兩到三個硬盤無法正常工作。

Diak18在Y軸上結(jié)果：

測試結(jié)果小結(jié)：測試后，沒有可見的損壞處，各個配件，硬盤等都沒有發(fā)生移位現(xiàn)象，測試過程中，有隨機的兩到三個硬盤無法正常工作。

在嚴(yán)重強于正常機箱使用的震動中，RM41736機箱中的各項配置都保持的完好，沒有發(fā)生移位現(xiàn)象，且?guī)追瑴y試，只有隨機的兩到三個硬盤無法正常工作，因此，該款機箱能在正常使用的震動中順利進行！

電磁兼容性評測

首先要為大家介紹的同樣是此次測試系統(tǒng)的配置

此項配置中的電磁干擾主要來自于Intel S5520HC MB ，36個硬盤以及兩顆2.8GHz Intel Xeon X5560 CPU

測試過程中用到的軟件有：Windows 2000 Server（English Version） ; E2000

組裝以后的RM41736

然后是評測設(shè)施介紹：

首先，EMC評測需要特殊的場地，此次評測使用如下圖所示的3M EMC Chamber

?

裝配好的服務(wù)器

EMC Analyzer

一切準(zhǔn)備工作做好以后，具體的評測步驟非常的簡單。將配置好服務(wù)器至于3M EMC Chamber中，啟動各項系統(tǒng)，360度旋轉(zhuǎn)服務(wù)器，分別記載30MHz~300MHz以及200MHz~1GHz環(huán)境下機箱水平和垂直時候的電池兼容性情況，結(jié)果如下：

從測試結(jié)果中能看出，不管是在頻率為30MHz~300MHz還是200MHz~1GHz的條件下，該機箱的抗電池干擾能力均能通過。

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