在“Disk Targets”標(biāo)簽中，還有一些相對高級的設(shè)置。譬如最下方的“Write IO Data Pattern”，設(shè)置的是用于填充數(shù)據(jù)包的類型，默認(rèn)是“Repeating bytes”，顧名思義就是重復(fù)的字節(jié)，這樣比較省資源，但可能會由于數(shù)據(jù)壓縮等因素導(dǎo)致成績被干擾。我們一般是建議選擇第二項“Pseudo random”，偽隨機數(shù)。
上方有關(guān)“Sectors”（扇區(qū)）的內(nèi)容，可以指定當(dāng)前測試線程涉及的最大容量、起始扇區(qū)等。嗯，是不是想起前面我曾經(jīng)提到過的“讓不同線程寫入不同的區(qū)域”？這是服務(wù)器應(yīng)用中的基本調(diào)優(yōu)技能，專業(yè)的測試軟件，如IOmeter、FIO都會有這樣的功能來對應(yīng)這些使用需求。
具體的測試項目，可以在“Access Specifications”標(biāo)簽中找到。右側(cè)是預(yù)設(shè)好的一些項目，把需要的項目添加到中間的任務(wù)框中就可以。
由于自帶的項目中沒有128KB的數(shù)據(jù)包，我們可以自行添加一個順序讀的操作，也可以在256KB項目的基礎(chǔ)上進(jìn)行修改，數(shù)據(jù)包大小填128KB，右邊的讀寫比例拉到讀。然后，把這個項目添加到任務(wù)欄中。
類似的，我們可以再做一個順序?qū)懙牟僮?，也加到任?wù)欄。相同的項目是可以重復(fù)添加的，如果想測五遍，那就各加5個項目就好了，很簡單直白。
添加了測試項目后，建議到“Test Setup”標(biāo)簽中設(shè)置一下測試時間之類的，譬如10分鐘，或者更長的時間。如果時間設(shè)置均為“0”，那就是不間斷地測試，直到手動停止。在Setup中還有高級一點的設(shè)置技巧：讓隊列逐次增加，1、2、4……16、32。這個設(shè)置在下方，按照我截圖所示選擇對應(yīng)的項目就可以。通過這個高級一點兒的設(shè)置可以更直觀地看到隨著隊列增加，SSD吞吐量會逐步提升。
完成設(shè)置后，點上方的綠色的旗幟就可以開始測試。測試結(jié)果會實時顯示，還可以點界面右側(cè)的箭頭（>）把儀表盤調(diào)出來。
這組測試結(jié)束時，我們可以得到了QD32、128KB順序讀寫的測試成績。
做隨機讀寫的測試時，IOmeter有包括4KB數(shù)據(jù)包在內(nèi)的豐富的預(yù)設(shè)項，也包括混合讀寫的項目。任務(wù)欄中，可以分別加入4KB讀、4KB寫、4KB混合讀寫等項目，混合讀寫的比例也可以根據(jù)目標(biāo)SSD的特點選擇或者稍做修改，譬如預(yù)設(shè)有50:50、75:25，可以調(diào)成70:30、90:10等。混合讀寫的意義，稍晚些專門講一下。我們先把隨機讀寫的重要設(shè)置講透一些。
其一，預(yù)設(shè)的4KB隨機讀寫有兩類選擇，“0% random”或“100% random”。對應(yīng)的設(shè)置在前面“Edit Access Specification”的截圖中可以看到，在左下方的部分。選擇“0% random”，更適合體現(xiàn)SSD處理能力的“上限”；選擇“100% random”，更適合體現(xiàn)實際應(yīng)用中面臨的“下限”，代表了一種極度混亂的狀態(tài)。有理想的架構(gòu)師、運維人員們都在努力減少后一種狀態(tài)的出現(xiàn)，盡量將隨機操作向前一種狀態(tài)優(yōu)化。
其二是隊列的設(shè)置。由于隨機讀寫需要較大的隊列數(shù)，我們建議啟用8個甚至16個Worker，再搭配32的IO，那就可以實現(xiàn)256甚至512的隊列深度了。需要注意檢查每個Worker下的任務(wù)順序是一致的，確保每個階段各個Worker跑的是同樣的項目。
Setup中的時間依舊按需設(shè)置。至于逐次增加隊列的高級技巧也可以用上，搭配8個Worker，我們就可以睡等自動輸出8、16、32……128、256隊列深度的4KB隨機讀寫成績。
可能會有個別特別“秀”的高徒想問：能不能讓W(xué)orker也自動遞增？1、2、4、8，再搭配IO的遞增，那畫面不要太美……原則上是可以的，通過把Idle項加到任務(wù)列表前面，就可以讓指定的若干Worker暫時不參與測試。至于每個Worker輪空多少次，就看Idle的多寡了——講真，這一招只適合骨骼清奇的天才，為師我一定是有什么大病，才會想到教IOmeter初學(xué)者這么殘暴的招式。我真有這么閑，去高速公路當(dāng)ETC不香嗎？
小結(jié)
看到這里，大家已經(jīng)可以用IOmeter進(jìn)行基本測試，甚至還掌握了一些稍微高級的測試設(shè)計技巧。但是，必須強調(diào)的是：這些操作對于消費類SSD已經(jīng)足夠了，但是，對于數(shù)據(jù)中心SSD還是不夠的。
數(shù)據(jù)中心SSD的工作負(fù)荷很大，用隨機寫的“萬秒圖”并不能真正呈現(xiàn)其特點，甚至測試數(shù)據(jù)并不一定可靠（譬如與原廠的標(biāo)稱數(shù)值差異過大），不能真正體現(xiàn)實際應(yīng)用的價值。在下一章節(jié)，我們會著重講講，為什么數(shù)據(jù)中心SSD的性能必須是可預(yù)期的，我們應(yīng)該如何獲得“可信的數(shù)據(jù)”。
