背面供電網(wǎng)絡(luò) (BSP/BS-PDN) 是過(guò)去幾年在整個(gè)芯片制造行業(yè)悄然發(fā)展的技術(shù),與EUV類(lèi)似,BS-PDN也被視為繼續(xù)開(kāi)發(fā)更精細(xì)工藝節(jié)點(diǎn)技術(shù)的基石。
想了解背面供電網(wǎng)絡(luò)的價(jià)值,就需要從芯片制造開(kāi)始了解。芯片內(nèi)部的功率傳輸網(wǎng)絡(luò)需要從蝕刻晶體管的第一層開(kāi)始,這是芯片上最小和最復(fù)雜的層,也是最需要 EUV 和多重曝光等高精度工具的地方。簡(jiǎn)而言之,它是芯片中最昂貴和最復(fù)雜的層,對(duì)芯片的構(gòu)造方式和測(cè)試方式都有重大影響。
在此之上,逐漸搭建各種金屬層,以將電子傳輸?shù)讲煌w管(包括緩存、緩沖器、加速器)之間所需的所有布線(xiàn),并進(jìn)一步為更上層的電源提供路由。 英特爾將這比喻成制作比薩餅,這是一個(gè)粗略但形象的比喻。
現(xiàn)代高性能處理器通常有 10 到 20 個(gè)金屬層。比如 Intel 4 工藝,有 16 個(gè)邏輯層,間距從 30 nm 到 280 nm。 然后在其之上還有另外兩個(gè)“巨型金屬”層,僅用于電源布線(xiàn)和放置外部接口。
芯片制造完成之后,就會(huì)被翻轉(zhuǎn)過(guò)來(lái)倒裝,然后所有的連接部分,包括電源和數(shù)據(jù)接口就變到了芯片底部,晶體管在芯片頂部。倒裝的好處是芯片調(diào)試和冷卻可以從頂部接觸,從而變得更為方便。
然而,前端供電的缺點(diǎn)在于,電源線(xiàn)和信號(hào)線(xiàn)都位于芯片的同一側(cè)。兩條線(xiàn)都必須向下穿15層以上才能到達(dá)晶體管,既要爭(zhēng)奪空間,同時(shí)還要避免干擾,并且距離越長(zhǎng),電阻越大,效率越低,這被稱(chēng)為 IR Drop/Droop 效應(yīng)。
在芯片制造的大部分歷史中,這并不是一個(gè)大問(wèn)題。但隨著芯片尺寸越來(lái)越小,這一問(wèn)題開(kāi)始凸顯。前端功率傳輸沒(méi)有明顯的硬性限制,但考慮到每一代芯片都越來(lái)越難縮小,這個(gè)問(wèn)題已經(jīng)變得太大(或者更確切地說(shuō)太昂貴)而無(wú)法解決。
背面供電則是將信號(hào)和電源傳輸網(wǎng)絡(luò)分開(kāi),一側(cè)是信號(hào),另外的一側(cè)(背面)是電源。
對(duì)于 Intel 的 PowerVia 實(shí)施這一概念,Intel 實(shí)際上是將晶圓倒置,并拋光幾乎所有剩余的硅,直到它們到達(dá)晶體管層的底部。 屆時(shí),英特爾隨后會(huì)在芯片的另一側(cè)構(gòu)建用于供電的金屬層,類(lèi)似于他們之前在芯片正面構(gòu)建它們的方式。最終結(jié)果是,英特爾最終得到了本質(zhì)上是雙面芯片,一側(cè)傳輸電源軌,另一側(cè)傳輸信號(hào)。
PowerVia的好處
遷移到背面供電有許多好處, 首先,這對(duì)簡(jiǎn)化芯片的構(gòu)造具有重要影響。 可以放寬金屬層的厚度,Intel 4 + PowerVia 的測(cè)試節(jié)點(diǎn)允許 36 nm 間距,而不是在 Intel 4 上要求 30 nm 間距。 這直接簡(jiǎn)化了整個(gè)芯片最復(fù)雜和昂貴的處理步驟,使其更接近Intel 7的工藝尺寸。
背面供電網(wǎng)絡(luò)也準(zhǔn)備好為芯片提供一些適度的性能改進(jìn)。通過(guò)更直接的方式縮短晶體管的功率傳輸路徑有助于抵消 IR Droop 效應(yīng),從而更好地向晶體管層傳輸功率,并且消除干擾,英特爾稱(chēng)之為“解決了數(shù)十年來(lái)的互連瓶頸問(wèn)題”。
PowerVia的難點(diǎn)
首先是測(cè)試難題,晶體管層現(xiàn)在大致位于芯片的中間,而不是末端。這意味著傳統(tǒng)的調(diào)試工具無(wú)法直接戳穿已完成的芯片的晶體管層進(jìn)行測(cè)試,而現(xiàn)在晶體管層和散熱層之間有 15 層左右的信號(hào)線(xiàn)。這些并非無(wú)法克服的挑戰(zhàn),正如英特爾的論文所仔細(xì)闡述的那樣,而是英特爾在其設(shè)計(jì)中必須解決的問(wèn)題。有趣的是,英特爾甚至在芯片設(shè)計(jì)中放置了一些“復(fù)活節(jié)彩蛋”缺陷,以便為英特爾的驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)提供一些半可控的缺陷。據(jù)英特爾稱(chēng),他們的驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)使用他們的 PowerVia 調(diào)試工具發(fā)現(xiàn)了所有這些Bug,有助于證明這些調(diào)試過(guò)程的有效性。
其次是制造難題,在芯片背面構(gòu)建電源層是以前從未做過(guò)的事情,這增加了出錯(cuò)的可能性。 因此,不僅電力傳輸需要工作,而且還不能影響良率。
英特爾使用了載體晶圓(carrier wafer)作為其構(gòu)建過(guò)程的一部分,以提供芯片剛性。在 PowerVia 晶圓的正面制造完成后,載體晶圓被粘合到該晶圓的正面,它是一個(gè)虛擬晶圓,以幫助支撐芯片。由于雙面芯片制造工藝會(huì)磨掉太多剩余的硅晶圓,因此沒(méi)有多少結(jié)構(gòu)硅可以將整個(gè)芯片結(jié)合在一起。
反過(guò)來(lái),該載體晶圓在其余下的生命周期中仍然是芯片的一部分。一旦芯片制造完成,英特爾就可以將鍵合的載體晶圓拋光到所需的厚度。 值得注意的是,由于載體晶圓位于芯片的信號(hào)側(cè),這意味著它在晶體管和冷卻器之間存在另一層材料。英特爾改善熱傳遞的技術(shù)已經(jīng)考慮到了這一點(diǎn)。
特別的,英特爾還使用 TSV 進(jìn)行電源布線(xiàn)。在 PowerVia 中,芯片的晶體管層中有納米級(jí) TSV(恰如其分地命名為 Nano TSV)。雖然電源軌仍然需要向上和越過(guò)晶體管層來(lái)輸送電力,但使用 TSV 可以讓電力更直接地輸送到晶體管層,避免了必須設(shè)計(jì)和內(nèi)置埋入電源軌所需的路由。
“Blue Sky Creek”證明了PowerVia的成功
相比RibbonFET,PowerVia的風(fēng)險(xiǎn)更高。因此,英特爾將兩項(xiàng)技術(shù)分別研發(fā),并為 PowerVia 開(kāi)發(fā)一個(gè)臨時(shí)測(cè)試節(jié)點(diǎn)。即便PowerVia開(kāi)發(fā)沒(méi)有如期完成,英特爾仍然可以推出不含PowerVia的RibbonFET產(chǎn)品。
研發(fā)代號(hào)為“Blue Sky Creek”的測(cè)試芯片,就是PowerVia與Intel 4的結(jié)合。
Blue Sky Creek 源自 Intel 的 Meteor Lake 平臺(tái),使用兩個(gè)基于 Intel Crestmont CPU 架構(gòu)的 E-cores die。 Intel 在這里使用 Crestmont 的原因有兩個(gè):首先,它最初是為 Intel 4 設(shè)計(jì)的,使其成為移植到 Intel 4 + PowerVia 工藝的一個(gè)很好的候選者。 其次,因?yàn)?E-cores 很??; 四核測(cè)試裸片的尺寸僅為 33.2 平方毫米(4 毫米 x 8.3 毫米),這使得它們?cè)跍y(cè)試復(fù)雜性和不必在實(shí)驗(yàn)工藝節(jié)點(diǎn)上實(shí)際生產(chǎn)大型裸片之間取得了良好的平衡。
PowerVia的測(cè)試也利用了極紫外光刻技術(shù)(EUV)帶來(lái)的設(shè)計(jì)規(guī)則。在測(cè)試結(jié)果中,芯片大部分區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)單元利用率都超過(guò)90%,同時(shí)單元密度也大幅增加,可望降低成本。測(cè)試還顯示,PowerVia將平臺(tái)電壓(platform voltage)降低了30%,并實(shí)現(xiàn)了6%的頻率增益( frequency benefit)。PowerVia測(cè)試芯片也展示了良好的散熱特性,符合邏輯微縮預(yù)期將實(shí)現(xiàn)的更高功率密度。
英特爾技術(shù)開(kāi)發(fā)副總裁Ben Sell表示:“英特爾正在積極推進(jìn)‘四年五個(gè)制程節(jié)點(diǎn)’計(jì)劃,并致力于在2030年實(shí)現(xiàn)在單個(gè)封裝中集成一萬(wàn)億個(gè)晶體管,PowerVia對(duì)這兩大目標(biāo)而言都是重要里程碑。通過(guò)采用已試驗(yàn)性生產(chǎn)的制程節(jié)點(diǎn)及其測(cè)試芯片,英特爾降低了將背面供電用于先進(jìn)制程節(jié)點(diǎn)的風(fēng)險(xiǎn),使得我們能領(lǐng)先競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手一個(gè)制程節(jié)點(diǎn),將背面供電技術(shù)推向市場(chǎng)?!?/p>
最后附上此次溝通會(huì)的全部PPT:
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