RunCore近日推出最新基于NAND Flash的高性能CPCIePXIe固態(tài)存儲卡PXIe-SSD，它可顯著提高PXI Express和基于CompactPCI Express自動化測試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)存儲速度。在各類采集、測試和測量應(yīng)用中，工程師們都可以使用該款3U CPCIePXIe固態(tài)存儲卡，并配合任何PXI Express機(jī)箱來創(chuàng)建緊湊的、高性能的基于PC的平臺。憑借1GB/s總系統(tǒng)帶寬，成為高級射頻和無線測試應(yīng)用、高吞吐量數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和其他需要密集分析、信號或圖像處理等應(yīng)用的理想選擇。

由于射頻和無線應(yīng)用的測試速度和測試系統(tǒng)控制器的計算性能緊密相關(guān)，RunCore PXIe-SSD可有效優(yōu)化射頻和無線測試應(yīng)用。相比傳統(tǒng)磁盤驅(qū)動器，PXIe-SSD可最高提升500%的存儲性能，在RunCore標(biāo)準(zhǔn)的磐龍SSD的均衡損耗算法的基礎(chǔ)上，通過板上Virtex4 FPGA和48片NAND Flash并行讀寫，實(shí)現(xiàn)了400MB/s的持續(xù)讀寫速度和最大768GB的容量。得益于在軍工固態(tài)存儲領(lǐng)域的技術(shù)積累，RunCore PXIe-SSD提供優(yōu)異的的使用壽命和出色的高可靠性，滿足MIL-STD-810FGJB150GJB322A-98等軍標(biāo)要求，可有效工作在振動、高低溫等環(huán)境。

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