在下午的分論壇中，中國科學(xué)院的楊佳先生為大家?guī)砹恕妒锕?000全局集合通信芯片的可測試性設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)》。首先，他講到D6000GSW集合通信芯片是大規(guī)模并行系統(tǒng)科學(xué)計(jì)算時(shí)，其通信模式中存有大量集合通信模式。

楊佳先生還介紹了D6000GSW芯片主要功能與規(guī)格，它支持集合通信操作，可靠全局同步，集成全局歸約處理引擎：40X64bit ALU Array，支持Reduce,ALL-Reduce處理、80Gbps處理能力，還支持64bit證書、64bit雙精度浮點(diǎn)數(shù)。

其中，掃描鏈設(shè)計(jì)采用多種SCAN模式，提高測試故障覆蓋類型與覆蓋率，支持Full SCAN/SCAN壓縮，壓縮比10:1，減少測試向總量，覆蓋連接性故障，測試時(shí)采用慢速時(shí)鐘。支持At-Speed跳變/壓縮測試，測試時(shí)需TCK與系統(tǒng)工作時(shí)交替進(jìn)入芯片。

在談到At-Speed測試的時(shí)候，楊佳先生講道，因At-Speed測試時(shí)芯片內(nèi)部節(jié)點(diǎn)翻轉(zhuǎn)率遠(yuǎn)大雨芯片正常工作模式，故新品峰值功耗會遠(yuǎn)大于正常工作時(shí)的功耗。

最后楊佳先生總結(jié)道，At-speed測試可以提高測試的故障覆蓋類型，但應(yīng)用時(shí)，需針對具體芯片結(jié)構(gòu)采取相應(yīng)的策略，以控制測試功耗的最大幅增加。片上DFT控制器(JTAG)的應(yīng)用，大大簡化了測試控制，使不以來ATE測試成為可能，同時(shí)，使測試成本大為縮減。

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